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紅外熱相儀設備

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QFI是業界名的紅外熱相儀制造商之一

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QFI 是業界名的紅外熱相儀制造商之一。其原理是通過接收被測樣品的紅外輻射,修正輻射系數,測出樣品表面的溫度分布,從而得到電子元器件和電路的熱失效分析。主要應用于:集成電路元器件失效分析、無損失效分析、細微缺陷探測;

InfeaScope III特點:
1. 高分辨率,空間分辨率達0.8µm
2. 高靈敏度探測頭,靈敏度可達0.1
3. 全自動紅外附上修正;對比度層次分明,數字變焦,具有數據存儲功能
4. 可與其它儀器配合使用,如探針臺



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