恒溫恒濕試驗(yàn)箱
恒溫恒濕試驗(yàn)箱適用于對(duì)家電、儀表、元器件、電子電器、汽車、航空、移動(dòng)通訊、摩托車、塑料制品、機(jī)械、五金工具等各類產(chǎn)品的零部件和材料的測(cè)試，可供各研究所、企事業(yè)單位試驗(yàn)室在高低溫環(huán)境下進(jìn)行可靠性和耐久性測(cè)試。
恒溫恒濕試驗(yàn)箱的結(jié)構(gòu)特征
恒溫恒濕試驗(yàn)箱采用數(shù)控機(jī)床加工成型，外形美觀，無(wú)反作用柄，操作簡(jiǎn)便。
內(nèi)、外膽采用的SUS304不銹鋼拉絲箱體，外膽采用的SUS304不銹鋼拉絲箱體或A3鋼板噴塑成型，表面紋理良好，潔凈度高。
大視窗附燈觀察箱保持明亮，并利用加熱體嵌入鋼化玻璃，隨時(shí)觀察箱內(nèi)清晰可辨。
恒溫恒濕試驗(yàn)箱左側(cè)有直徑為50mm或100mm的檢測(cè)孔，可以用來(lái)檢測(cè)電源或信號(hào)線外接。
控制器(controller)
冷凍及風(fēng)路循環(huán)系統(tǒng)（Refrigeration and air circulation system）
型號(hào)規(guī)格Model and specification
經(jīng)國(guó)家環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備質(zhì)量監(jiān)督檢測(cè)中心檢測(cè)，符合“環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備技術(shù)條件”系列國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)中的：
GB/T2423.1—2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.2—2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.3—2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)方法
GB/T2423.4—2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》 試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法
GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10586-89 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備
GB2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
GB2423.3-91電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法
GB2423.4-91電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法
GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
GJB150.3 (MIL-STD-810D)高溫試驗(yàn)方法
GJB150.4（MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法
