利用X射線熒光（XRF）進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量和材料分析，提高過(guò)程和質(zhì)量控制。

X-Strata是結(jié)構(gòu)緊湊、堅(jiān)固耐用、用于質(zhì)量控制的可靠的臺(tái)式X射線熒光分析設(shè)備，提供簡(jiǎn)單、快速、無(wú)損的鍍層厚度測(cè)量和材料分析。

它在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出的分析能力，可進(jìn)行多鍍層厚度的測(cè)量。

鍍層測(cè)厚儀X-Strata系列提供：

• 無(wú)損分析：無(wú)需樣品制備
• 經(jīng)行業(yè)認(rèn)證的技術(shù)和可靠性，確保每年都帶來(lái)收益
• 操作簡(jiǎn)單，只需要簡(jiǎn)單的培訓(xùn)
• 分析只需三步驟
• 杰出的分析準(zhǔn)確性和精確性
• 在鍍層測(cè)厚領(lǐng)域擁有超過(guò)20年的豐富經(jīng)驗(yàn)

使用功能強(qiáng)大、操作簡(jiǎn)單的X射線熒光光譜儀進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量，保證質(zhì)量的同時(shí)降低成本。

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