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納米壓痕測(cè)試系統(tǒng)

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NanoIndenterG200是一套完整的納米力學(xué)顯微探針系統(tǒng),其功能包括了納米壓痕、納米劃痕以及納米力學(xué)顯微鏡等

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Nano Indenter G200是一套完整的納米力學(xué)顯微探針系統(tǒng),其功能包括了納米壓痕、納米劃痕以及納米力學(xué)顯微鏡等。整個(gè)測(cè)試流程都是全自動(dòng)的,這樣就提高了測(cè)試數(shù)據(jù)的可靠性和可重復(fù)性。


G200主要特性與技術(shù)指標(biāo)

   符合 ISO 14577 標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量結(jié)果

   具有更大動(dòng)態(tài)范圍的電磁驅(qū)動(dòng)器

   具有靈活性,以及針對(duì)可重復(fù)使用或全新應(yīng)用的可升級(jí)能力

   通過(guò)壓痕深度處的連續(xù)剛度測(cè)量,實(shí)現(xiàn)動(dòng)態(tài)特性表征

   實(shí)時(shí)控制、簡(jiǎn)便的協(xié)議開(kāi)發(fā)和漂移補(bǔ)償


優(yōu)勢(shì)

   精確的測(cè)量結(jié)果,高度的再現(xiàn)性,符合IS014577國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),GB/T 22458-2008國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。

   載荷和位移的動(dòng)態(tài)測(cè)量范圍在同類產(chǎn)品中

   利用連續(xù)剛度測(cè)量技術(shù)對(duì)壓入深度方向的動(dòng)態(tài)力學(xué)性能進(jìn)行精確的表征


應(yīng)用

  半導(dǎo)體材料

  薄膜材料

  微機(jī)電系統(tǒng)

  硬質(zhì)涂層

  DLC

  生物材料

 

Nano Indenter G300配備支持試樣直徑為12英寸的樣品臺(tái),可對(duì)各種不同尺寸晶圓片直接進(jìn)行力學(xué)性能檢測(cè),不需要破壞晶圓片就可以獲得上面任意位置的力學(xué)性能,整個(gè)實(shí)驗(yàn)過(guò)程全自動(dòng)控制,避免了可能的人為因素的影響,確保每個(gè)測(cè)試都是合理、一致、精確。


優(yōu)勢(shì)

   配有大樣品臺(tái),樣品直徑可達(dá)300毫米

  全自動(dòng)控制,避免人為因素影響測(cè)試結(jié)果

  應(yīng)用范圍廣泛,升級(jí)方便

  利用連續(xù)剛度測(cè)量技術(shù)對(duì)壓入深度方向的動(dòng)態(tài)力學(xué)性能進(jìn)行精確的表征

  精確的測(cè)量結(jié)果,高度的再現(xiàn)性,符合IS014577國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),GBT 22458-2008國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。

 

應(yīng)用

  半導(dǎo)體材料

  微機(jī)電系統(tǒng)

  薄膜材料

  復(fù)合材料

  金屬材料

  陶瓷制品

 






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