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手持式X熒光光譜儀重量輕(1.23kg,測量范圍Mg-U)、是基于X射線管技術的手持式XRF分析儀。快速的分析速度和準確性兩大特性。其他功能包括集成的彩色觸摸屏、X射線管、SMART®Grade 計時、SharpBeam®優化X射線幾何形狀、硅漂移探測器,以及堅固的外殼,該外殼經過密封,可以防潮防塵。
S1 TITAN系列都采用了布魯克公司的SharpBeam®技術,并配置了布魯克技術X-Flash®SDD探測器,向您提供快速分析時間。可以配備各種校準裝置,這些裝置經過優化,適用于各種樣品材料—包括各種合金、不同的采礦與環境樣品,以及受限制材料。
SharpBeam®技術對探測器和放射管幾何圖形進行了優化。經優化的幾何體具有許多理想的效果,包括:
1、 降低功率要求
2、減輕重量
3、提高測量度
4、提高探測限制
5、延長電池壽命
位于上海漕河涇松江高科技園區布魯克理化分析實驗室
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