動態光散射粒徑分布測定裝置新型號，高靈敏度、高精度的測量；*表征單一體系納米尺度粒子；*解析納米粒子的物質結構。主要應用范圍為：陶瓷粒子、金屬納米粒子、碳黑、制藥、病毒、涂料、化妝品、聚合物、食品、CMP、顏料、油墨

HORIBA SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀
 

動態光散射粒徑分布測定裝置新型號，高靈敏度、高精度的測量；*表征單一體系納米尺度粒子；*解析納米粒子的物質結構。
主要應用范圍為：陶瓷粒子、金屬納米粒子、碳黑、制藥、病毒、涂料、化妝品、聚合物、食品、CMP、顏料、油墨

粒子直徑測定：
超寬動態光散射范圍：0.3nm~8000nm
通過采用與NEDO國家項目共同開發的相關器，實現高性能化
在單一納米粒子光學系統中，采用更低雜散光90度檢測光學系統
雙光路系統（90度和173度）適用于更寬更濃度范圍的樣品測量，可以進行釉漿、顏料等高濃度樣品以及膠束、聚合物等濃度樣品的測定

產品特點：
可測納米粒子的三個重要要素——粒子直徑、Zeta電位和分子量
樣品濃度從PPM到百分之幾十，SZ-100都能在原液狀態下取樣和測定
HORIBA自主研發的微量電泳樣品池，可以測定僅100uL的Zeta電位
廣泛應用于膠制粒子、機能性納米粒子、高分子、膠束、核糖體、納米囊等的測定
取樣后，僅需按測定開始按鈕即可，操作簡單

粒子直徑分布測定圖例

*（卵清蛋白） 醋酸緩沖劑pH4.3              鹽酸硫胺素（*1鹽酸鹽）
分子量：約14000                                              分子量：337 
濃度：0.1mg/ml                                               濃度：300mg/ml 
平均直徑：4.0nm             平均直徑：0.5nm

Zeta電位

NIST SRM1980 α-FeOOH   電泳遷移率：2.53±0.12umcm/Vs
<測定結果>電泳遷移率：2.53umcm/Vs，Zeta電位：32.9mV

LUDOX TM SiO2，0.01mol/L KCI
<測定結果>Zeta電位：-38.3mV